《科技》愛德萬測試24日辦SoC技術研討會 報名人數創高

愛德萬測試表示，此次活動中將發表各項新型SoC測試解決方案，包括針對工程應用與實驗室所開發的新型V93000測試站，可加快產品開發速度，並將展示新加入V93000測試頭系列中的DUT介面，可改變機械尺寸涵蓋新應用需求，同時保持與現有載板兼容性。

愛德萬測試指出，今年研討會首次推出用於電源管理晶片（PMIC）測試和其他需要更高電壓應用的XPS電源供應模組新版本。此外，還將討論V93000 WiFi 7解決方案、大電流概況分析新功能，以及自動化檢測（ATE）上的高速掃描和系統級測試（SLT）功能。

此外，爲讓客戶與使用者更深入瞭解各項新測試解決方案，大會設置多個技術交流站（Technology Kiosk），提供參與者和愛德萬測試技術顧問交流討論，瞭解有關新解決方案的更多訊息。活動中亦將展示新硬體設計、應用範例並操作軟體即時展現新功能。

愛德萬測試臺灣董事長暨總經理吳萬錕表示，今年研討會內容豐富，自10月底開放註冊至今，已有超過400位客戶完成報名，創下歷年新高。秉持客戶的成長就是公司的成長理念，未來期許能在不斷進化的半導體供應鏈中，持續提高客戶價值。

除了持續提供業界領先的技術方案，臺灣愛德萬測試亦致力履行企業社會責任，服務範疇包括社服、教育、環保、藝文等面向，已協助超過60個單位。2019年起籌劃校園相關的產業講座及半導體測試課程，希望讓更多學生認識半導體和相關測試領域。

愛德萬測試表示，截至11月中，共推出近60場半導體測試相關課程及產業講座和企業參訪，概括逾20所大學院系及逾8000名學生，以積極行動回饋校園，併爲半導體產業培育人才貢獻一份心力。