臺積電2奈米良率爆已達60％　基辛格嗆「用%做比較並不合適」

▲英特爾前執行長基辛格（Pat Gelsinger）。（圖／資料照）

記者陳瑩欣／臺北報導

半導體行業獨立分析師Dan Nystedt在社羣平臺「X」上分享業界傳出臺積電（2330）的2奈米制程晶片試產良率突破60%，優於預期，若明年量產，可望成爲全球最先進程程技術，不過這則發文僅公開9分鐘，剛從英特爾退休的前執行長基辛格（Pat Gelsinger）隨即發文嗆聲「良率用％做比較並不合適」，遭網友反問「Intel的良率要如何描述？」

▲臺積電2奈米傳試產良率突破60%，英特爾前執行長基辛格公開嗆聲。（圖／翻攝X平臺）

Dan Nystedt指已有媒體引述未透露姓名的供應鏈消息人士稱，臺積電2nm製程試產良率超過60%，超出預期。量產計劃將於明年進行，製造技術正在臺積電新竹（寶山）廠開發，準備好後也將轉移到高雄廠。

隨後基辛格在相關發言下表示，「用％來談論產量是不合適的。」他表示大晶片的良率較低，較小的晶片擁有較高良率。

基辛格同時指出，「任何在不定義晶片尺寸的情況下，使用成品率百分比作爲半導體健康狀況指標的人都無法理解半導體成品率。」

對於基辛格的言論，雖有網友表示認同，但也有人反問「所以Intel的良率？」、「如果臺積電總是用最佳晶片尺寸，這是不公平的嗎？」、「這就是爲何他們決定基辛格該退休的原因」。